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Imagen


 
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  Título original:    
  NANO-LAPICEROS  
  Título:  
  NANO-LAPICEROS  
  Signatura:  
  FO028221  
  Fecha de
producción: 
 
  01/01/2007  
  Resumen:  
 

Esta imagen muestra una sección de un chip que presenta una tecnología de seis capas de metales enterradas. El corte en sección se ha realizado con el equipo CrossBeam 1560 XB (Carl Zeiss) que combina una columna FIB (Focused Ion Beam) con otra SEM (Scanning Electron Microscopy). El haz focalizado de iones de galio produce sputtering sobre el material deseado de forma localizada, permitiendo estudiar en profundidad la composición, aspecto y grosor de las capas implicadas. Debido a los diferentes ritmos de ataque (sputter rate) de las diferentes capas de materiales implicados se produce un efecto llamado cascada. El resultado final, en este caso, presenta grandes similitudes con los lapiceros de grafito ampliamente utilizados.

 
  Colección:  
  FOTCIENCIA CSIC-FECYT  
  País de
producción:  
 
  España  
  Observaciones:  
 

Pertenece a la edición FOTCIENCIA07, Certamen Nacional de Fotografía Científica. Sección MICRO. Obra seleccionada.

 
  Autores:  
  Sabadell Melado, Justo
 
  Autores:  
  Llobet Sixto, Jordi
 
  Autores:  
  Borrisé Nogué, Xavier
 
 


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