Esta imagen se ha obtenido de la combinación de dos imágenes diferentes. Por un lado nos muestra (en azul y amarillo) la fase 3x3 del sistema Sn/Ge(111) adquirida mediante STM a una temperatura de 80K. Aparece de forma superpuesta la imagen de la transformada rápida de Fourier (FFT) de la topografía superficial (picos afilados en color rojo y blanco). La transformada de Fourier permite identificar dos periodicidades diferentes, la (R3xR3)30º (pico rojos) y las 3x3 (picos blancos). Esta imagen ilustra la capacidad de las técnicas SPM para obtener información sobre las superficies.

Finalista SPMage07.
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