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F I C H A D E L D O C U M E N T O
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Imagen de AFM que muestra un dibujo de un fullereno realizado sobre silicio mediante técnicas de oxidación local anódica.
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Técnica utilizada: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM).
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Hauschild, Jens
Universidad Libre de Berlín (Alemania)
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