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  Título:  
 

NANOANILLOS

 
  Signatura:  
  FO028317  
  Fecha de
producción: 
 
  01/01/2007  
  Nivel:  
  Estudios secundarios  
  Resumen:  
 

Imagen AFM de una estructura con forma anular de una micra de diámetro conectada mediante cuatro terminales. Todas las líneas (de una altura de 15 nm ) se han “dibujado” sobre GaAlAs mediante la técnica litográfica de oxidación local usando la propia punta del microscopio de fuerzas atómicas. Este dispositivo permite observar interesantes efectos cuánticos en el transporte electrónico, abriendo la puerta a futuros dispositivos nanoelectrónicos.

 
  Colección:  
  SPMage  
  País de
producción:  
 
  Suiza  
  Ficha técnica:  
 

Técnica utilizada: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

 
  Observaciones:  
 

Primer premio SPMage07.
Más información sobre los premios SPMage e imágenes en http://www.icmm.csic.es/spmage/galleries.php>

 
  Autores:  
  Fuhrer, Andreas.

ETH Zürich (Suiza)

 
 


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