|
F I C H A D E L D O C U M E N T O
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Imagen AFM de una estructura con forma anular de una micra de diámetro conectada mediante cuatro terminales. Todas las líneas (de una altura de 15 nm ) se han “dibujado” sobre GaAlAs mediante la técnica litográfica de oxidación local usando la propia punta del microscopio de fuerzas atómicas. Este dispositivo permite observar interesantes efectos cuánticos en el transporte electrónico, abriendo la puerta a futuros dispositivos nanoelectrónicos.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Técnica utilizada: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Fuhrer, Andreas.
ETH Zürich (Suiza)
|
|
|
|
|
|
|
Resolución mínima: 1024 x 768 Navegadores: Firefox 3.5.1/Internet Explorer 7.0
Todas las imágenes, vídeos y audios están protegidas por sus respectivos derechos de autor
|
|
|